FY8905 Materialfysikk

Kunnskaper

Kandidaten skal ha kunnskap om:

• Symmetri i krystallografi, punktgrupper og romgrupper
• Fourierteknikker og konvolusjonsteoremet for beskrivelse og analyse av (delvis) krystallinske materialer.
• Diffraksjonsbasert strukturanalyse/materialkarakterisering ved hjelp av elektron-, røntgen-, og nøytronstråling og komplementaritet av slike prober.
• Grunnprinsippene og eksempler på spektroskopiteknikker med røntgen- og elektronstråle.
• Prinsipper bak avbildning i sveipe- og transmisjonselektronmikroskopi (SEM/TEM)

Ferdigheter

Kandidaten skal kunne:

• Bruke "The International Tables for Crystallography" og koble gruppeteori til krystallografi.
• Kinematiske diffraksjonsberegninger med romlig og temporal korrelasjon for materialer med varierende grad av krystallinitet.
• Forklare avvik mellom kinematisk beregnet intensitet og målt intensitet.
• Analysere variasjoner i intensitet for strukturkarakterisering i reelt rom.
• Forklare sammenhengen mellom diffraksjon og avbildning.

Generell kompetanse

Kandidaten skal være i stand til å:

• Forstå betydningen av avanserte karakteriseringsteknikker (avbildning, diffraksjon og spektroskopi) i faststoffysikk, nano- og materialvitenskap.
• Utføre hands-on spredningseksperimenter, inklusive dataanalyser og rapportskriving.
• Vurdere mulighetene for å benytte de ulike eksperimentelle teknikkene til å angripe strukturrelaterte problemstillinger for en rekke organiske og uorganiske materialer.

Delvurdering: skriftlig eksamen og rapport. Begge deler må være bestått. Ved utsatt eksamen (kontinuasjonseksamen) kan skriftlig eksamen bli endret til muntlig eksamen. Eksamen er på engelsk.

Ved gjentak kan delvurderinger tas opp enkeltvis.

Forelesninger, regneøvinger og laboratorieøvinger. Emnet blir undervist på engelsk dersom internasjonale mastergradsstudenter eller stipendiater følger det. Undervisningsmateriell og eksamen er på engelsk.

Felles forelesninger med TFY4255.